Département Physique
Accueil
Nouveautés
Fournisseurs
Evénements
Espace Presse
  Produits
Recherche par mots-clés
Microscopie Electronique
à Balayage
Microscopie Electronique
à Transmisson

Equipements / Accessoires pour Microscopie Electronique
Microanalyse X
Tomographie X
Spectrométrie de Masse d'Ions Secondaires

Fluorescence X et équipements associés
Diffraction X

Equipements dédiés
Semi-conducteur
Petits appareils de laboratoires
  Service clients
Demande d'intervention
Autres demandes
Microscopes Électroniques à Balayage à effet de champ à pression variable
Microscopes Électroniques à Balayage
>MEB à effet de champ pression variable
e


SU 6600 HITACHI
     

Le MEB à effet de champ à pression variable Hitachi SU 6600 permet de combiner les avantages de la pression variable et de la haute résolution. Sa chambre analytique permet l'adaptation simultanée de nombreux équipements tels que EDS, WDS, EBSD, cathodoluminescence, etc....

 Résolution garantie : 1,2 nm à 30kV / vide secondaire
 Résolution garantie : 3,5 nm à 30 kV / 10 Pa
 Emission Schottky
courant de sonde : jusqu'à 200nA
 Tension d'accélération : de 0,5 kV à 30 kV
 Gamme de pressions dans la chambre : jusqu'à 300 Pa
 Platine porte-échantillons eucentrique grands     déplacements, motorisée sur les cinq axes
Sas d'introduction des échantillons standard
 Détecteurs SE, BSE et ESED II

 
+ d'info
     
       
Contactez directement le Département Physique : info.physique@elexience.fr
       
ELEXIENCE - 9, rue des petits-ruisseaux - BP 61 91371 - Verrières-le-buisson - Cedex - FRANCE - Tel : 33-1 69.53.80.00 - Fax: 33-1 60.11.98.09
mail : info@elexience.fr  -   plan d'accès