Le MEB à pression variable d'Hitachi modèle S-3400N s'adapte à un grand nombre d'échantillons grâce à sa chambre analytique volumineuse et de nombreux ports d'accès visant l'axe optique. Ce microscope permet de produire simplement et rapidement des images de haute qualité avec des résolutions garanties sur site à haute et basse tensions
(3 nm à 30 kV ~ 10 nm à 3 kV).
Avec un réglage et un alignement totalement automatiques du faisceau d'électrons et un système de pompage entièrement sec, ce microscope répond aux exigences d'un utilisateur débutant ou confirmé. L'opérateur qui souhaite optimiser chacun des réglages pas à pas conserve cette liberté. Le MEB S-3400N offre un confort d'observation optimal.
 Résolution garantie sur site : 3 nm à 30 kV ; 10 nm à 3 kV (détecteur     SE); 4 nm à 30 kV et 6 Pa (détecteur BSE)
 Tension d'accélération : de 0,3 kV à 30 kV
 Gamme de grandissements : x5 à x300.000
 Platine porte-échantillons eucentrique motorisée sur les 5 axes
Echantillons jusqu'à 200mm de diamètre et 80mm de hauteur à la     distance analytique
 Pompe turbomoléculaire à paliers magnétiques