Fournisseurs

AMT

  • Caméras CCD haute résolution et haute sensibilité

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Deben Research

  • Détecteurs BSE, cathodo, STEM
  • Caméras infrarouges
  • Accesssoires pour MEB de table - MiniMEB Hitachi TM1000, TM3000, TM3030, TM3030+
  • Accessoires divers

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Hitachi High-Technologies

Pour la France, la Belgique Wallonne, le Luxembourg, la Suisse Romande, l'Algérie et le Maroc.

  • Microscopes Electroniques à Balayage à pression variable
  • Microscopes Electroniques à Balayage à effet de champ
  • Microscopes Electroniques à Balayage de table
  • FIB Focused Ion Beam
  • Microscopes Electroniques à Transmission basse tension
  • Microscopes Electroniques à Transmission haute tension
  • STEM Scanning par Transmission
  • Systèmes de mesure de l'Overlay
  • Microscopes électroniques de revue de défauts
  • Système d'inspection optique ou électronique

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Hitachi High-Tech Science

  • Spectromètres de fluorescence X par dispersion d'énergie
  • Analyse Thermique
  • Microscope à Force Atomique "AFM"

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Hitachi Power Solutions

  • Microscopes acoustiques/ Tomographes acoustiques (SAT)

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IBSS

  • Système de décontamination d’échantillons (MEB & MET) par plasma, ex-situ et in-situ

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Kammrath & Weiss

  • Platines d'essais mécaniques
  • Platines d'essais en température
  • Platine pour polarisation de circuits
  • Platines haute précision à mouvements piezo avec mémorisation de coordonnées
  • EBIC quantitatif
  • Système de prélevement de lames MET "Lift out"
  • Creep tester, shear tester

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Molecular Vista

  • MOLECULAR VISTA, société américaine implantée en Californie à San José, développe et commercialise des microscopes à champ proche spécialisés dans les techniques IR-AFM et PiFM-AFM

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Park Systems

  • Microscopes à force atomique dédiés Recherche (matériaux, biologie)
  • Microscopes à force atomique automatiques dédiés Industrie

Pour regarder la vidéo corporate Park Systems, cliquez ici

 

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Quartz Imaging Corporation

  • Stations de numérisation d'images
  • Bases de données
  • Contrôle et gestion d'équipements à distance

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Quorum Technologies

  • Métalliseurs
  • Evaporateurs
  • Appareil de décharge luminescente
  • Lyophilisateur
  • Appareil pour point critique
  • Platines cryogéniques
  • Platine refroidie à effet Peltier
  • Réacteur à plasma

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Rigaku

  • Diffractomètres X pour configuration SAXS, monocristal, poudres et matériaux, couches minces
  • Diffractomètre X de table
  • Générateurs X
  • Goniomètres X
  • Détecteurs X
  • Optiques
  • Spectromètres de fluorescence X par dispersion de longueur d'ondes
  • Spectromètres de fluorescence X par dispersion d'énergie
  • Microscopie à rayons X, tomographe 3D

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Thermo Scientific

  • Microanalyse X avec système EDS, détecteurs avec ou sans azote liquide
  • Microanalyse X avec système WDS à faisceau focalisé ou standard
  • Microanalyse X avec système EBSD (Quasor)

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TVIPS

  • Caméras pour MET / TEM très haute sensibilité

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ZETA INSTRUMENTS

  • Profilométres / réflectomètres / interféromètres optiques 3D sans contact
  • Systèmes de défectivité optique 

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9, rue des petits-ruisseaux | BP 61 | 91371 Verrières-le-buisson Cedex | FRANCE | Tel : +33 (0)1 69 53 80 00 | Fax : +33 (0)1 60 11 98 09 | Plan d'accès | Mentions légales