Microscopie Electronique à Balayage à table
Microscopie Electronique à Balayage compact
Microscopie Electronique à Balayage à pression variable
Microscope Electronique à effet de champ à pression variable
Microscope Electronique à Balayage à effet de champ
FIB Focus Ion Beam
Microscope Electronique à Transmission basse tension
Microscope Electronique à Transmisson haute tension
STEM Scanning par transmission
Equipements de préparation d’échantillons pour MEB
Equipements de préparation d’échantillons pour MET
Accessoires pour MEB
Accessoires pour MET
EDS avec cartographie spectrale
Détecteur Si(Li) refroidi par azote liquide
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WDS standard ou à faisceau focalisé (PBS)
EBSD
Microscopie en champ proche
Microscopie en champ proche sans contact pour la biologie
Microscopie optique en champ proche
Profilomètres optiques
Microtomographie X (MicroCT)
Creep tester
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Spectromètres de masse d'ions secondaires (SIMS) de table
Appareils de Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)
TXRF
Appareils de Fluorescence X à longueur d'ondes (WDXRF)
Equipements de préparation d'échantillons par fusion
Fondants
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Porte-échantillons Ultra Carry
Diffractomètres X Matériaux
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Cuves à ultrasons
Testeur de cisaillement, testeur de fluage > Creep tester > Creep tester Kammrath & Weiss
| Creep tester Kammrath & Weiss |
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