TOMOGRAPHIE PCX-50 PCX-150 XRT MICROTOMOGRAPHIE ELEXIENCE

Microscopie Electronique à Balayage

Microscopie Electronique à Balayage à table

Microscope Electronique à Balayage (MEB) de table MiniMEB® TM-3000 Hitachi

Microscopie Electronique à Balayage compact

Microscope Electronique à balayage (MEB) compact SU1510 Hitachi

Microscopie Electronique à Balayage à pression variable

Microscopie Electronique à Balayage à pression variable S-3400N Hitachi

Microscopie Electronique à Balayage à pression variable S-3700N Hitachi

Microscope Electronique à effet de champ à pression variable

Microscope Electronique à effet de champ à pression variable SU 6600 Hitachi

Microscope Electronique à Balayage à effet de champ

Microscope Electronique à Balayage SU-70 MEB à effet de champ à cathode chaude Hitachi

Microscope Electronique à Balayage à effet de champ SU 8020, SU 8030, SU 8040 : MEB ultra-haute résolution

Microscope Electronique à Balayage à effet de champ SU 8010: MEB haute résolution à cathode froide

Microscope Electronique à Balayage à effet de champ SU 9000: MEB Ultra-haute résolution à cathode froide

FIB Focus Ion Beam

FIB Focus Ion Beam NB-5000 Hitachi

Microscopie Electronique à Transmission

Microscope Electronique à Transmission basse tension

Microscope Electronique à Transmission basse tension HT-7700 Hitachi

Microscope Electronique à Transmisson haute tension

Microscope Electronique à Transmission haute tension H-9500 Hitachi

Microscope Electronique à Transmission haute tension HF-3300 Hitachi

STEM Scanning par transmission

STEM Scanning par transmission HD-2700 Hitachi

Equipements / Accessoires pour Microscopie Electronique

Equipements de préparation d’échantillons pour MEB

Polisseur ionique IM4000 Hitachi

Nettoyeur UV: ZONE SEM HITACHI

Métalliseurs (standards et haute résolution) Quorum Technologies

Évaporateurs Quorum Technologies

Platines cryogéniques Quorum Technologies

Point critique Quorum Technologies

Lyophilisateurs Quorum Technologies

Platines refroidies à effet Peltier Quorum Technologies

Réacteurs à Plasma Quorum Technologies

Décharge luminescente Quorum Technologies

Equipements de préparation d’échantillons pour MET

Equipements d'amincissement mécanique pour MET Fischione

Equipements d'amincissement électrolytique pour MET Fischione

Equipements d'amincissement ionique pour MET Fischione

Plasma Cleaner (Nettoyage de surface d'échantillon) pour MET Fischione

Accessoires pour MEB

Platines d'essais mécaniques Kammrath & Weiss

Platines d'essais en température Kammrath & Weiss

Platines pour polarisation de circuit à pointes Kammrath & Weiss

Platines haute précision à mouvements piezo avec mémorisation de coordonnées

EBIC quantitatif Kammrath & Weiss

Détecteurs BSE KE Developments

Détecteurs STEM KE Developments

Détecteur de cathodoluminescence KE Developments

Caméra infrarouge KE Developments

Accessoires divers KE : EBIC, picoampèremètre, cage de Faraday...

Modules pour informatiser des MEB analogiques Quartz

Bases de données images Quartz

Serveur pour la gestion d'un parc d'équipements Quartz

Contrôle de MEB à distance Quartz

Accessoires pour MET

Caméras CCD haute résolution et haute sensibilité AMT

Technologie de plan-films réinscriptible - Scanner Ditabis

Système de prélevement de lames MET Kammrath & Weiss

Support d'échantillon pour la tomographie Fischione

Microanalyse X

EDS avec cartographie spectrale

EDS avec cartographie spectrale System Seven Thermo Scientific

Détecteur Si(Li) refroidi par azote liquide

Detecteur Si(Li) refroidi par azote liquide Nanotrace Détecteur Si(Li) Thermo Scientifc

Détecteur Silicon Drift sans azote liquide

Détecteur Silicon Drift sans azote liquide UltraDry Détecteur Silicon Drift Thermo Scientifc

WDS standard ou à faisceau focalisé (PBS)

WDS standard ou à faisceau focalisé (PBS) MagnaRay Thermo Scientific

EBSD

EBSD QuasOr Thermo Scientific

Microscopie en champ proche

Microscopie en champ proche

XE-70

XE-100

XE-120

XE-150

NX10

Microscopie en champ proche sans contact pour la biologie

XE-BIO

Microscopie optique en champ proche

XE-NSOM

Profilométrie optique

Profilomètres optiques

Profilomètres optiques ZETA 20 et ZETA 200

Tomographie

Microtomographie X (MicroCT)

Microtomographie X (microCT) PCX-50 et PCX-150 XRT

Testeur de cisaillement, testeur de fluage

Creep tester

Creep tester Kammrath & Weiss

Shear tester

Shear tester Kammrath & Weiss

Spectrométrie de masse d'Ions Secondaires

Spectromètres de masse d'ions secondaires (SIMS) de table

Spectromètres de masse d'ions secondaires Mini-SIMS alpha SAI (Millbrook-Instruments)

Spectromètres de masse d'ions secondaires Mini-SIMS ToF SAI (Millbrook Instruments)

Fluorescence X

Appareils de Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)

Fluorescence X à dispersion d'énergie SEA 1000A SII Seiko Instruments

Fluorescence X à dispersion d'énergie SEA 1200VX SII Seiko Instruments

Fluorescence X à dispersion d'énergie SFT 9500 SII Seiko Instruments

Fluorescence X à dispersion d'énergie SFT 110 SII Seiko Instruments

Fluorescence X à dispersion d'énergie NEX QC Rigaku

Fluorescence X à dispersion d'énergie NEX CG Rigaku

TXRF

TXRF NanoHunter Rigaku

Appareils de Fluorescence X à longueur d'ondes (WDXRF)

Fluorescence X à longeur d'ondes (WDXRF) Mini-Z Rigaku

Fluorescence X à longeur d'ondes (WDXRF) Supermini Rigaku

Fluorescence X à longeur d'ondes (WDXRF) ZSX Primus I Rigaku

Fluorescence X à longeur d'ondes (WDXRF) ZSX Primus II Rigaku

Fluorescence X à longeur d'ondes (WDXRF) Simultix 14 Rigaku

Equipements/Accessoires pour la Fluorescence X

Equipements de préparation d'échantillons par fusion

Fluorescence X The Bee Claisse

Fluorescence X The OX Claisse

Fluorescence X M4 Fluxer Claisse

Fluorescence X Peroxyde Fluxeur Claisse

Fluorescence X TheAnt Claisse

Fluorescence X rFusion Claisse

Fondants

Fluorescence X Fondants Standards et Custom Blends Claisse

Fluorescence X Fusion Monitor

Creusets et Moules

Fluorescence X Creusets et Moules Claisse

Porte-échantillons Ultra Carry

Fluorescence X Porte échantillon UltraCarry Rigaku

Diffraction X

Diffractomètres X Matériaux

Diffractomètre X Matériaux MiniFlex II Rigaku

Diffractomètre X Matériaux Ultima IV Rigaku

Diffractomètre X Matériaux SmartLab 3 Kw Rigaku

Diffractomètre X Matériaux SmartLab 9 Kw Rigaku

Diffractomètre X Matériaux Rapid II Rigaku

Diffractomètres X Mono-Cristal

Diffractomètre X Mono-cristal XtaLab Rigaku

Diffractomètre X Mono-cristal Rapid II Rigaku

Diffractomètre X Mono-cristal Saturn 724+ Rigaku

Diffractomètre X Mono-cristal Double longueur d'ondes Rigaku

Diffractomètres X SAXS

Diffractomètre X SAXS S-MAX Rigaku

Equipements (Modules) pour Diffraction X

Optiques

Optique MaxFlux Optics

Optique Confocal Max-Flux and Varimax Rigaku

Optique Shine Optics Rigaku

Optique Max-Flux combinaison Rigaku

Goniomètres

Détecteurs

Accessoires

Générateurs

Générateur Micromax 002+ Rigaku

Générateur Micromax 007 Rigaku

Générateur Micromax 007 DW Rigaku

Générateur Multimax-9 Rigaku

Générateur FRE+ Rigaku

Equipements dédiés Semi-conducteur

Petits appareils de laboratoires

Cuves à ultrasons

Cuves à ultrasons Sonoswiss

Demande d'intervention

Autres demandes

Tomographie > Microtomographie X (MicroCT) > Microtomographie X (microCT) PCX-50 et PCX-150 XRT

Microtomographie X (microCT) PCX-50 et PCX-150 XRT

XRT est le spécialiste de l'imagerie en contraste de phase. La gamme PCX permet aussi de faire des images en contraste d'absorption.

Spécifications techniques

Le PCX-50 peut observer des échantillons jusqu'à 5 cm et il est équipé d'un tube de rayons X de 90kV.

Le PCX-150 est un système très haut de gamme qui permet d'observer des échantillons jusqu'à 150mm. Il est équipé en standard d'un tube micro foyer de 160kV (en option 225kV.

Pour plus d'informations :