Microscopie Electronique à Balayage à table
Microscopie Electronique à Balayage compact
Microscopie Electronique à Balayage à pression variable
Microscope Electronique à effet de champ à pression variable
Microscope Electronique à Balayage à effet de champ
FIB Focus Ion Beam
Microscope Electronique à Transmission basse tension
Microscope Electronique à Transmisson haute tension
STEM Scanning par transmission
Equipements de préparation d’échantillons pour MEB
Equipements de préparation d’échantillons pour MET
Accessoires pour MEB
Accessoires pour MET
EDS avec cartographie spectrale
Détecteur Si(Li) refroidi par azote liquide
Détecteur Silicon Drift sans azote liquide
WDS standard ou à faisceau focalisé (PBS)
EBSD
Microscopie en champ proche
Microscopie en champ proche sans contact pour la biologie
Microscopie optique en champ proche
Profilomètres optiques
Microtomographie X (MicroCT)
Creep tester
Shear tester
Spectromètres de masse d'ions secondaires (SIMS) de table
Appareils de Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)
TXRF
Appareils de Fluorescence X à longueur d'ondes (WDXRF)
Equipements de préparation d'échantillons par fusion
Fondants
Creusets et Moules
Porte-échantillons Ultra Carry
Diffractomètres X Matériaux
Diffractomètres X Mono-Cristal
Diffractomètres X SAXS
Optiques
Goniomètres
Détecteurs
Accessoires
Générateurs
Cuves à ultrasons
Demande d'intervention 