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Elexience vous propose en exclusivité les produits de ses 20 fournisseurs. |
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 Caméras CCD haute résolution et haute sensibilité
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Appareils de fusion électriques ou à gaz
Appareil de pesée
Fondants et creusets
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Microtomes, ultramicrotomes, cryo-ultramicrotomes
Appareils de cryofixation, cryosubstitution et cryo répliques
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Analyse des particules dans les fluides |
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Scanner - Technologie Imaging Plate |
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Broyeurs, mélangeurs (préparation d'échantillons) |
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Equipements d'amincissement mécanique pour microscopes électroniques
Equipements d'amincissement électrolytique pour microscopes électroniques
Equipements d'amincissement ionique pour microscopes électroniques
Plasma Cleaner (Nettoyage de surface d'échantillon) pour microscopes électroniques
Support d'échantillon pour la tomographie
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Pour la France et la Belgique
Microscopes Electroniques à Balayage à pression variable
Microscopes Electroniques à Balayage à effet de champ
Microscopes Electroniques à Balayage de table
FIB Focused Ion Beam
Microscopes Electroniques à Transmission basse tension
Microscopes Electroniques à Transmission haute tension
STEM Scanning par Transmission
Systèmes de mesure de l’Overlay
Microscopes électroniques de revue de défauts
Système d’inspection optique ou électronique
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Analyseur XRF portable
- analyse d'alliage
- anlyse multi-éléments
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Analyseur XRD portable |
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Platines d'essais mécaniques
Platines d'essais en température
Platine pour polarisation de circuits
Platines haute précision à mouvements piezo avec mémorisation de coordonnées
EBIC quantitatif
Système de prélevement de lames MET "Lift out"
Creep tester, shear tester |
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Détecteurs BSE, cathodo, STEM
Caméras infrarouges
Accessoires divers |
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Mini-SIMS Alpha
Mini-SIMS TOF
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Capsules d'observation en milieu hydraté |
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Stations de numérisation d'images
Bases de données
Contrôle et gestion d'équipements à distance |
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Métalliseurs
Evaporateurs
Appareil de décharge luminescente
Lyophilisateur
Appareil pour point critique
Platines cryogéniques
Platine refroidie à effet Peltier
Réacteur à plasma |
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Diffractomètres X pour configuration SAXS, monocristal, poudres
et matériaux, couches minces
Diffractomètre X de table
Générateurs X
Goniomètres X
Détecteurs X
Optiques
Spectromètres de fluorescence X par dispersion de longueur d'ondes
Spectromètres de fluorescence X par dispersion d'énergie
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Spectromètres de fluorescence X par dispersion d'énergie |
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Appareils de nettoyage par ultrasons
Accessoires |
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Microanalyse X avec système EDS, détecteurs avec ou sans azote liquide
Microanalyse X avec système WDS à faisceau focalisé ou standard
Microanalyse X avec système EBSD (Quasor)
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Tomographie X
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